İlgili dökümanlara erişebilmeniz içim. konunun ingilizce adı:
Parasitic Oscillation and Ringing of Power Mosfet.
Googla aratabilirsiniz.
İlk sıralarda Toshiba uygulama notu çıkar (aşağıya ekledim)
Kısaca şöyle diyor
"Switching" uygulamalarında MOSFET'in parazitik osilasyonu ve "Ringing" oluşur .
Gate gerilimindeki Osilasyon ve Ringing, hatalı anahtarlamalara, güç kayıplarının artmasına ve MOSFET'in kalıcı olarak zarar görmesine neden olabilir.
MOSFET'in Osilasyon ve Ringing yapmasının başlıca nedenleri şunlardır:
Osilasyon devresinin oluşması
Devrede bir osilasyon ağı oluşabilir ve bu, MOSFET'in parazitik osilasyonuna yol açar.
"Drain ve "Source" arasındaki aşırı gerilim
Kapanma "Turn Off" sırasında Drain ve Source arasındaki Ringing gerilimi, gate-drain kapasitansı (Cgd) üzerinden pozitif geri besleme döngüsü oluşturarak gate terminaline geri dönebilir ve gate geriliminin Osilasyon yapmasına neden olabilir.
"Source" endüktansı
Kapanma sırasında Drain-Source akımının (di/dt) oluşturduğu gerilim ile Source bağlantısındaki ve kablolardaki kaçak endüktanslar, MOSFET'in gate-source döngüsünü LCR rezonansına sokabilir.
("Source" endüktansının neden olduğu Ringing)
Başka faktörler de Osilasyon ve Ringing'e yol açabilir, ancak MOSFET kullanırken kaçak "Stray" endüktans en önemli etkendir.