maxmetalizm
Üye
- Katılım
- 29 May 2009
- Mesajlar
- 38
- Puanları
- 1
Aydınlatma armatürleri üreten firmamızın labaratuvarında ce sertifikalandırma testleri yapılmaktadır. Standartlarda geçen maddelerden birisi aşağıdaki gibidir. Fakat tam olarak neyi nasıl yapacağımı çözemedim, eğer yardımcı olabilirseniz çok sevinirim. Teşekkürler...
Kontak direnci deneyi
Bağlantı uçlarının (veya bağlantıların) elektriksel performansı on adet bağlantı ucundan oluşan bir takım
üzerinde kontrol edilir. Aydınlatma armatürü içinde yer alan bütün bağlantı uçları aynı tasarıma sahip değilse
her bir tasarıma ait on bağlantı ucundan oluşan bir takım deneye tâbi tutulur.
15.9.1.1 Yaylı tip bağlantı uçlarında, Madde 15.9.1.3’e göre uygulanacak deney, yalıtımı olmayan on adet
som bakır iletkenle yapılır.
Madde 15.7’de belirtilen en büyük kesit alanlı beş iletkenin her biri bir bağlantı ucuna normal kullanımdaki
gibi bağlanır.
Madde 15.7’de belirtilen en küçük kesit alanlı beş iletkenin her biri geriye kalan beş bağlantı ucundan birine
normal kullanımdaki gibi bağlanır.
15.9.1.2 Bağlantı uçlarının kontak çubuklu veya dilli ve priz tipi olması durumunda deney,
Madde 15.9.1.3’e göre uç üniteleri ile yapılır.
15.9.1.3 İletkeni takılmış durumdaki her bir bağlantı ucu, deney akımı (a.a. veya d.a.) ile yüklenir ve 1 saat
sonra deney akımı hâlâ geçerken bağlantı ucu üzerindeki gerilim düşümü ölçülür. Ölçme noktaları mümkün
olduğu kadar, gerilim düşümünün ölçüleceği kontak noktasının yakınında bulunmalıdır.
Ölçülen gerilim düşümü 15 mV’u aşmamalıdır.
Birbirinden ayrılamaz durumdaki iki ekteki toplam gerilim düşümü, birlikte ölçüldüğünde bu maddede verilen
değerin iki katını aşmamalıdır.
ICS 29.140.40 TÜRK STANDARDI TS EN 60598-1/Nisan 2009
108
15.9.2 Isınma deneyleri
Bağlantı uçlarının (veya bağlantıların) ısıl performansı, Madde 15.9.1’deki deneye tâbi tutulan bağlantı uçları
üzerinde kontrol edilir.
15.9.2.1 Ortam sıcaklığına kadar soğutulduktan sonra her bir iletken, Madde 15.7’de belirtilen en büyük
kesit alanlı, yalıtımı olmayan som yeni bir bakır iletkenle değiştirilir ve her bir uç ünitesi, sonra da bağlantı
ucuna veya ilgili bağlantı bölümüne beş defa bağlanıp çekilmek üzere uygun yeni bir uç ünitesi ile değiştirilir.
Bundan sonra iletkenler yalıtımı olmayan yeni iletkenlerle değiştirilir.
15.9.2.2 İletkeni takılmış durumdaki her bir bağlantı ucu, deney akımı (a.a. veya d.a.) ile gerilim
düşümünün ölçülmesi için yeterli süre boyunca yüklenir. Bu ölçmeler ve Madde 15.9.2.4’deki ölçmeler için,
Madde 15.9.1’deki özellikler uygulanır.
15.9.2.3 Beyan akımı 6 A’e kadar (6A dahil) olan bağlantı uçları (veya bağlantılar), akımsız olarak T ± 5 °C
veya 100 °C ± 5 °C’den büyük olanında, her bir çevrimi 30 mindan oluşan 25 çevrimlik yaşlandırma deneyine
tâbi tutulur, daha sonra 15 °C ile 30 °C arasındaki sıcaklıkta soğutma periyoduna geçirilir. Beyan akımı 6 A’i
aşan bağlantı uçları (veya bağlantılar) 100 çevrimlik yaşlandırma deneyine tabi tutulur.
Not - T sıcaklığı, lâmba duylarında olduğu gibi T-işaretli bileşenler için işaretlenmiş en büyük beyan
sıcaklıktır.
15.9.2.4 Her bir bağlantı ucunda gerilim düşümü:
a) Beyan akımı 6A’e kadar (6A dahil) olan bağlantı uçları için 10’uncu ve 25’inci çevrimlerden sonra;
b) Beyan akım 6A’den büyük bağlantı uçları için 50’inci ve 100’üncü çevrimlerden sonra;
tekrar ölçülür.
Her iki durumda bütün bağlantı uçlarındaki gerilim düşümü, Madde 15.9.2.2’de deneyden geçirilen aynı
bağlantı ucu üzerinde ölçülen gerilim düşümü değerini % 50’den daha fazla aşmazsa, veya gerilim
düşümündeki artış 2mV’tan daha az ise bağlantı uçları gerekli özellikleri karşılamış sayılır.
Herhangi bir bağlantı ucundaki gerilim düşümü 22,5 mV’u aşarsa bağlantı uçları reddedilir.
Bağlantı uçlarının birinde a) veya b)’ye göre ölçülen gerilim düşümü, aynı bağlantı ucunda Madde
15.9.2.2’ye göre ölçülen gerilim düşümünü % 50’den daha fazla miktarda veya en küçük 2 mV aşar, ancak
22,5 mV’u aşmazsa; bu on adet bağlantı ucu akımsız olarak beyan akımlarına göre 25 çevrim veya 100
çevrimlik yeni bir yaşlandırma deneyine tâbi tutulur.
10’uncu ve 25’inci veya 50’inci ve 100’üncü çevrimlerden (beyan akımına göre) sonra; gerilim düşümleri
tekrar ölçülür. Herhangi bir bağlantı ucunda gerilim düşümü, 22,5 mV’u aşmamalıdır.
Birbirinden ayrılamaz durumdaki iki ekteki toplam gerilim düşümü beraber ölçüldüğünde, bu maddede verilen
değerin iki katını aşmamalıdır.
15.9.2.5 Bir bağlantı ucu, iletkeni yalıtkan malzemeden olan yüzeye karşı sıkacak biçimde tasarımlanmış
ise, ısınma deneyleri sırasında bu yüzeyde şekil bozukluğu meydana gelmemelidir.
Uygunluk, gözle muayene ile kontrol edilir.
Kontak direnci deneyi
Bağlantı uçlarının (veya bağlantıların) elektriksel performansı on adet bağlantı ucundan oluşan bir takım
üzerinde kontrol edilir. Aydınlatma armatürü içinde yer alan bütün bağlantı uçları aynı tasarıma sahip değilse
her bir tasarıma ait on bağlantı ucundan oluşan bir takım deneye tâbi tutulur.
15.9.1.1 Yaylı tip bağlantı uçlarında, Madde 15.9.1.3’e göre uygulanacak deney, yalıtımı olmayan on adet
som bakır iletkenle yapılır.
Madde 15.7’de belirtilen en büyük kesit alanlı beş iletkenin her biri bir bağlantı ucuna normal kullanımdaki
gibi bağlanır.
Madde 15.7’de belirtilen en küçük kesit alanlı beş iletkenin her biri geriye kalan beş bağlantı ucundan birine
normal kullanımdaki gibi bağlanır.
15.9.1.2 Bağlantı uçlarının kontak çubuklu veya dilli ve priz tipi olması durumunda deney,
Madde 15.9.1.3’e göre uç üniteleri ile yapılır.
15.9.1.3 İletkeni takılmış durumdaki her bir bağlantı ucu, deney akımı (a.a. veya d.a.) ile yüklenir ve 1 saat
sonra deney akımı hâlâ geçerken bağlantı ucu üzerindeki gerilim düşümü ölçülür. Ölçme noktaları mümkün
olduğu kadar, gerilim düşümünün ölçüleceği kontak noktasının yakınında bulunmalıdır.
Ölçülen gerilim düşümü 15 mV’u aşmamalıdır.
Birbirinden ayrılamaz durumdaki iki ekteki toplam gerilim düşümü, birlikte ölçüldüğünde bu maddede verilen
değerin iki katını aşmamalıdır.
ICS 29.140.40 TÜRK STANDARDI TS EN 60598-1/Nisan 2009
108
15.9.2 Isınma deneyleri
Bağlantı uçlarının (veya bağlantıların) ısıl performansı, Madde 15.9.1’deki deneye tâbi tutulan bağlantı uçları
üzerinde kontrol edilir.
15.9.2.1 Ortam sıcaklığına kadar soğutulduktan sonra her bir iletken, Madde 15.7’de belirtilen en büyük
kesit alanlı, yalıtımı olmayan som yeni bir bakır iletkenle değiştirilir ve her bir uç ünitesi, sonra da bağlantı
ucuna veya ilgili bağlantı bölümüne beş defa bağlanıp çekilmek üzere uygun yeni bir uç ünitesi ile değiştirilir.
Bundan sonra iletkenler yalıtımı olmayan yeni iletkenlerle değiştirilir.
15.9.2.2 İletkeni takılmış durumdaki her bir bağlantı ucu, deney akımı (a.a. veya d.a.) ile gerilim
düşümünün ölçülmesi için yeterli süre boyunca yüklenir. Bu ölçmeler ve Madde 15.9.2.4’deki ölçmeler için,
Madde 15.9.1’deki özellikler uygulanır.
15.9.2.3 Beyan akımı 6 A’e kadar (6A dahil) olan bağlantı uçları (veya bağlantılar), akımsız olarak T ± 5 °C
veya 100 °C ± 5 °C’den büyük olanında, her bir çevrimi 30 mindan oluşan 25 çevrimlik yaşlandırma deneyine
tâbi tutulur, daha sonra 15 °C ile 30 °C arasındaki sıcaklıkta soğutma periyoduna geçirilir. Beyan akımı 6 A’i
aşan bağlantı uçları (veya bağlantılar) 100 çevrimlik yaşlandırma deneyine tabi tutulur.
Not - T sıcaklığı, lâmba duylarında olduğu gibi T-işaretli bileşenler için işaretlenmiş en büyük beyan
sıcaklıktır.
15.9.2.4 Her bir bağlantı ucunda gerilim düşümü:
a) Beyan akımı 6A’e kadar (6A dahil) olan bağlantı uçları için 10’uncu ve 25’inci çevrimlerden sonra;
b) Beyan akım 6A’den büyük bağlantı uçları için 50’inci ve 100’üncü çevrimlerden sonra;
tekrar ölçülür.
Her iki durumda bütün bağlantı uçlarındaki gerilim düşümü, Madde 15.9.2.2’de deneyden geçirilen aynı
bağlantı ucu üzerinde ölçülen gerilim düşümü değerini % 50’den daha fazla aşmazsa, veya gerilim
düşümündeki artış 2mV’tan daha az ise bağlantı uçları gerekli özellikleri karşılamış sayılır.
Herhangi bir bağlantı ucundaki gerilim düşümü 22,5 mV’u aşarsa bağlantı uçları reddedilir.
Bağlantı uçlarının birinde a) veya b)’ye göre ölçülen gerilim düşümü, aynı bağlantı ucunda Madde
15.9.2.2’ye göre ölçülen gerilim düşümünü % 50’den daha fazla miktarda veya en küçük 2 mV aşar, ancak
22,5 mV’u aşmazsa; bu on adet bağlantı ucu akımsız olarak beyan akımlarına göre 25 çevrim veya 100
çevrimlik yeni bir yaşlandırma deneyine tâbi tutulur.
10’uncu ve 25’inci veya 50’inci ve 100’üncü çevrimlerden (beyan akımına göre) sonra; gerilim düşümleri
tekrar ölçülür. Herhangi bir bağlantı ucunda gerilim düşümü, 22,5 mV’u aşmamalıdır.
Birbirinden ayrılamaz durumdaki iki ekteki toplam gerilim düşümü beraber ölçüldüğünde, bu maddede verilen
değerin iki katını aşmamalıdır.
15.9.2.5 Bir bağlantı ucu, iletkeni yalıtkan malzemeden olan yüzeye karşı sıkacak biçimde tasarımlanmış
ise, ısınma deneyleri sırasında bu yüzeyde şekil bozukluğu meydana gelmemelidir.
Uygunluk, gözle muayene ile kontrol edilir.
